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La Diffraction RX est une technique de base de caractérisation des matériaux. Il permet la détermination et l’identification de phases inconnues, minérales, organiques ou inorganiques. Plusieurs services sont offerts:
- Analyse et identification par diffraction d'échantillons
poly-cristallins
- Analyse par diffraction de films ou de fibres.
- Diffraction/diffusion aux petits angles
- Analyse par diffraction avec températures variables pour
l'étude de transformation ou de transitions de phases
- Analyse de texture et de microstructure
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L’appareil est équipé de:
- Goniomètre de configuration Bragg-Brentano θ-2θ
- Détecteur à scintillation; type NaI
- Contrôleur de température de l’ambiante jusqu’à 1200°C
- Vitesse d’acquisition 0.05 – 25 °/min (θ)
- Reproductibilité de mesure: ± 0,001° (2θ)
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